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超声波探伤仪探伤波形是判断缺陷的依据

超声波探伤仪探伤波形是判断缺陷的依据

超声波在工件中传播,遇到不同的介质界面(如缺陷、工件底面或侧面)时,均会产生反射或折射,有些反射波将在荧光屏上显示出来,这就是探伤波形。反射波形(反射波的形状及高度)取决于反射面的性质、工件的形状及仪器(包括探头)的工作状态等。
 
超声波探伤仪探伤波形是判断缺陷的依据。即由反射波的位置确定缺陷的位置、由反射波的高度确定缺陷的大小、由反射波的形状估计缺陷的性质。因此,掌握超声波的传播规律和了解影响波形的因素,正确的识别波形都是很重要的。
 
基本波形的名称及含义:
 
发射波(T):发射的声波
 
缺陷波(F):由缺陷处反射回的声波
 
底波(B):由工件底面反射回的声波
 
侧面波(W):由工件的侧面或其他异型轮廓的底部(沟槽、油眼)反射回的声波
 
界面波(S):由浸在液体中的工件表面反射回的声波
 
直通波(K):用两个直探头或斜探头在工件中的同一面或相对面探测时,接收探头收到的声波
 
横孔反射波(H):从试块横孔处反射回的声波
 
平底孔反射波(V):从试块平底孔处反射回的声波

上一文章超声波检测仪提供极大的灵活性和便携性

下一文章对于局部探伤的焊缝如果发现有不允许的缺陷时

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